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(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210595558.3 (22)申请日 2022.05.30 (71)申请人 大庆溢泰半导体材 料有限公司 地址 163000 黑龙江省大庆市高新区火炬 新街44号(园区)新兴产业孵化器3# 210房间 (72)发明人 袁韶阳 冯佳峰 于会永 赵春锋 赵中阳 刘钊 张艳辉 荆爱明 (51)Int.Cl. C30B 11/00(2006.01) H04N 5/225(2006.01) H04N 7/18(2006.01) (54)发明名称 一种晶体生长过程中缺陷监控 装备 (57)摘要 一种晶体生长过程中缺陷监控装备, 涉及可 视化单晶生长装置技术领域, 包括生长炉、 石英 管、 坩埚, 坩埚下部设置有支 撑装置, 支撑装置下 方设置有旋转装置, 生长炉的内壁为圆锥面, 其 中上端为小径端, 下端为大径端, 生长炉内壁的 下部分设置有反射条, 生长炉与支撑装置之间设 置有接受反射信号的监视器, 监视器与反射条处 于同一相位, 监视器外部设置有冷却装置; 本发 明解决了现有的垂直梯度凝固法生长晶体时不 可监控的问题, 本发明石英管内晶体生长的可视 状态信号通过生长炉内壁的反射条反实时的射 到监控设备, 加之石英管自身不断的转动, 从而 全方位的对晶体生长 状态进行监控。 权利要求书1页 说明书2页 附图2页 CN 114959869 A 2022.08.30 CN 114959869 A 1.一种晶体生长过程中缺陷监控装备, 包括生长炉(2), 生长炉(2)内放置有石英管 (3), 石英管(3)内放置有同轴的坩埚, 坩埚下部设置有支撑装置(7), 支撑装置(7)下方设置 有旋转装置(8), 从而使得石英管(3)及坩埚在生长炉(2)内转动, 其特征在于: 生长炉(2)的 内壁为圆锥面, 其中上端为小径端, 下端为大径端, 生长炉(2)内壁的下部分设置有反射条 (1), 生长炉(2)与支撑装置(7)之间设置有接受反射信号的监视器, 监视器与反射条(1)处 于同一相位, 监视器外 部设置有冷却装置 。 2.根据权利要求1所述的一种晶体生长过程中缺陷监控装备, 其特征在于: 所述的冷却 装置与生长炉(2)在周向上相 对固定设置, 冷却装置包括冷却环, 冷却环包括上环板(4)和 下环板(6), 上环板(4)和下环板(6)之间为冷却腔(9), 所述的监视器包括摄像头(5), 摄像 头(5)位于冷却腔(9)内, 冷却腔(9)设置有 进口(10)和出口(1 1)。 3.根据权利要求2所述的一种晶体生长过程中缺陷监控装备, 其特征在于: 所述的摄像 头(5)有两个, 两个摄像头(5)呈180度相位角分布于冷却腔(9)内, 所述的进口(10)和出口 (11)同样呈180度相位角分布于冷却腔(9)上, 进口(10)分别与两个摄像头(5)呈90度相位 角。 4.根据权利要求1所述的一种晶体生长过程中缺陷监控装备, 其特征在于: 所述的冷却 装置下方设置有位移装置, 位移装置带动冷却装置相对生长炉(2)的轴向产生 位移。 5.根据权利要求1所述的一种晶体生长过程中缺陷监控装备, 其特征在于: 所述的反射 条(1)为热导体材 料制成, 反射条(1)的横截面 为拱形, 从而增 加反射视角的宽度。权 利 要 求 书 1/1 页 2 CN 114959869 A 2一种晶体生长过 程中缺陷 监控装备 技术领域 [0001]本发明属于可视化单晶生长装置技术领域, 尤其涉及一种晶体生长过程中缺陷监 控装备。 背景技术 [0002]由于晶片在电子学中发挥至关重要的作用, 晶片是由晶体切片得到, 因此晶体生 长质量显得尤为重要, 晶体生长的方法有很多, 有些生长方法是可观测的, 例如: 提拉法生 长晶体; 而有些生长方法是不可观测的, 例如: 垂直梯度凝固法; 不可观测导致垂直梯度凝 固法无法及时的针对生长过程中的缺陷进行调整。 发明内容 [0003]为实现垂直梯度凝固法生长晶体过程中的监控问题, 本发明提供一种晶体生长过 程中缺陷监控装备, 本发明能够直观的监控到整个晶体生长过程, 使操作者有据可依, 在发 现缺陷的第一之间做出相应的判断和针对性的调整, 从而降低或者规避缺陷, 提升晶体生 长质量。 [0004]本发明提供的技术方案是: 一种晶体生长过程中缺陷监控装备, 包括生长炉, 生长 炉内放置有石英管, 石英管内放置有同轴的坩埚, 坩埚下部设置有支撑装置, 支撑装置下方 设置有旋转装置, 从而使得石英管及坩埚在生长炉内转动, 生长炉的内壁为圆锥面, 其中上 端为小径端, 下端为大径端, 生长炉内壁的下部分设置有反射条, 生长炉与 支撑装置 之间设 置有接受反射信号的监视器, 监视器与反射条处于同一相位, 监视器外 部设置有冷却装置 。 [0005]所述的冷却装置与生长炉在周向上相对固定设置, 冷却装置包括冷却环, 冷却环 包括上环板和下环板, 上环板和下环板之间为冷却腔, 所述的监视器包括摄像头, 摄像头位 于冷却腔内, 冷却腔设置有 进口和出口。 [0006]本发明的有益效果为: 本发明的生长炉内壁为圆锥面, 上头内径小, 下头内径大, 这样即改变了生长炉内壁与石英管之间的距离, 满足由上至下温度梯度逐渐减小的要求, 还能使生长炉内壁与石英管壁出现夹角, 从而为信号的反射提供可能性, 石英管内晶体生 长的可视状态信号通过生长炉内壁的反射条反实时的射到监控设备, 加之石英管自身不断 的转动, 从而全方位的对晶体生长状态进 行监控, 使操作者有据可依, 在发现缺陷的第一之 间做出相应的判断和针对性的调整, 从而降低或者 规避缺陷, 提升晶体生长质量。 附图说明 [0007]图1是本发明的整体结构示 意图。 [0008]图2是本发明 中冷却环的俯视图。 [0009]图3是本发明 中反射条的截面视图。 [0010]图中: 1、 反射条; 2、 生长炉; 3、 石英管; 4、 上环板; 5、 摄像头; 6、 下环板; 7、 支撑装 置; 8、 旋转装置; 9、 冷却腔; 10、 进口; 1 1、 出口。说 明 书 1/2 页 3 CN 114959869 A 3
专利 一种晶体生长过程中缺陷监控装备
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