(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 20221081093 3.1 (22)申请日 2022.07.11 (71)申请人 南京烯墨新材 料科技有限公司 地址 211599 江苏省南京市六合区龙池街 道虎跃东路8号 (72)发明人 江秋　曾洪亮　 (74)专利代理 机构 深圳市创富知识产权代理有 限公司 4 4367 专利代理师 齐童 (51)Int.Cl. G01N 3/02(2006.01) G01N 3/04(2006.01) G01N 3/08(2006.01) B82Y 35/00(2011.01) (54)发明名称 一种MXene纳米片材 料检测装置 (57)摘要 本发明公开了一种MXene纳米片材料检测装 置， 包括底座， 所述底座的顶部中间表面位置上 开孔并设置有第一滑槽， 所述第一滑槽的内部两 侧滑动连接有第一滑块， 所述第一滑槽的两侧底 部位置上均开孔并固定连接有第一推杆电机且 第一推杆电机的输出端与第一滑 块固定连接。 本 发明中， 首先转动调节把手带动螺纹杆在夹具内 向下转动， 在压板内转动， 带动压板和夹板向下 移动， 当夹板和防滑垫对MXene纳米片材料进行 夹持时， 停止转动调节把手， 打开第一推杆电机， 对MXene纳米片材料的拉伸强度进行检测， 第一 推杆电机输出端带动第一滑块向外移动， 通过检 测探头对M Xene纳米片材料的拉伸强度变化进行 记录。 权利要求书1页 说明书3页 附图2页 CN 115127906 A 2022.09.30 CN 115127906 A 1.一种MXene纳米片材料检测装置， 包括底座(1)， 其特征在于： 所述底座(1)的顶部中 间表面位置上开孔并设置有第一滑槽(2)， 所述第一滑槽(2)的内部两侧滑动连接有第一滑 块(4)， 所述第一滑槽(2)的两侧底部位置上均开孔并固定连接有第一推杆电机(3)且第一 推杆电机(3)的输出端与第一滑块(4)固定连接， 所述第一滑槽(2)的中间顶部两侧位置上 均固定连接有固定板(6)， 两个所述固定板(6)之间滑动连接有推板(7)， 两个所述固定板 (6)的前后两端位置上均固定连接有挡板(8)， 所述第一滑块(4)的顶部表面位置上均固定 连接有夹具(10)， 所述夹具(10)的顶部位置上开 孔并螺纹连接有螺纹杆(15)。 2.根据权利 要求1所述的一种MXene纳米片材料检测装置， 其特征在于： 所述底座(1)的 顶部前端中间位置上固定连接有检测探 头(9)。 3.根据权利 要求1所述的一种MXene纳米片材料检测装置， 其特征在于： 所述底座(1)内 底部位置上开孔并固定连接有第二推杆电机(5)且第二推杆电机(5)的输出端与推板(7)固 定连接。 4.根据权利要求1所述的一种MXene纳米片材料检测装置， 其特征在于： 所述夹具(10) 的内侧中间位置上开孔并设置有第二滑槽(11)， 所述第二滑槽(11)内滑动连接有第二滑 块 (13)。 5.根据权利要求1所述的一种MXene纳米片材料检测装置， 其特征在于： 所述夹具(10) 的内侧底部表面 位置上开 孔并固定连接有防滑垫(12)。 6.根据权利要求1所述的一种MXene纳米片材料检测装置， 其特征在于： 所述螺纹杆 (15)的顶部表面 位置上固定连接有调节把手(14)。 7.根据权利要求1所述的一种MXene纳米片材料检测装置， 其特征在于： 所述螺纹杆 (15)的底部表 面位置上转动连接有压板(16)， 所述压板(16)的底部表 面位置上固定连接有 夹板(17)。权　利　要　求　书 1/1 页 2 CN 115127906 A 2一种MXene纳米片材料检测装 置 技术领域 [0001]本发明涉及 纳米片领域， 尤其涉及一种MX ene纳米片材 料检测装置 。 背景技术 [0002]纳米片， 这是最薄的二维材料， 它的碳原子 的六边形网格是通过形成单层薄片以 的形式排列而获得的， 而石墨烯纳米片是 由单层碳原子平面结构石墨烯堆垛而成的物质， 石墨烯纳米片， 也称为碳纳米片或碳纳米壁， 厚度为纳米尺度的二 维石墨纳米材料， 其极端 情况是单层石墨烯， 材 料检测装置在  MXene纳米片也有所应用。 [0003]目前， 在MXene纳米片材料检测过程中需要用到材料检测装置对MXene  纳米片进 行检测， 但常纳米片在应用前需要对其进 行功能检测， 其中最重要的就是检测其韧性、 拉伸 强度， 但现有的检测装置在对其进行检测时由于材料体积较小， 对其施加压力时容易在工 作台上产生偏移， 会导 致检测难度增大， 检测结果 不准确。 发明内容 [0004]本发明的目的是为了解决现有技术中存在的缺点， 而提出的一种MXene纳米片材 料检测装置 。 [0005]为了实现上述目的， 本发明采用了如下技术方案： 一种MXene纳米片材料检测装 置， 包括底座， 所述底座的顶部中间表面位置上开孔并设置有第一滑槽， 所述第一滑槽的内 部两侧滑动连接有第一滑块， 所述第一滑槽的两侧底部位置上均开孔并固定连接有第一推 杆电机且第一推杆电机的输出端与第一滑块固定连接， 所述第一滑槽的中间顶部两侧位置 上均固定连接有固定板， 两个所述固定板之间滑动连接有推板， 两个所述固定板的前后两 端位置上均固定连接有挡板， 所述第一滑块的顶部表面位置上均固定连接有夹具， 所述夹 具的顶部位置上开 孔并螺纹连接有螺纹杆。 [0006]作为上述 技术方案的进一 步描述： [0007]所述底座的顶部前端中间位置上固定连接有检测探 头。 [0008]作为上述 技术方案的进一 步描述： [0009]所述底座内底部位置上开孔并固定连接有第二推杆电机且第二推杆电机的输出 端与推板固定连接 。 [0010]作为上述 技术方案的进一 步描述： [0011]所述夹具的内侧中间位置上开孔并设置有第二滑槽， 所述第二滑槽内滑动连接有 第二滑块。 [0012]作为上述 技术方案的进一 步描述： [0013]所述夹具的内侧底部表面 位置上开 孔并固定连接有防滑垫 。 [0014]作为上述 技术方案的进一 步描述： [0015]所述螺纹杆的顶部表面 位置上固定连接有调节把手。 [0016]作为上述 技术方案的进一 步描述：说　明　书 1/3 页 3 CN 115127906 A 3