(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210504429.9 (22)申请日 2022.05.10 (71)申请人 济宁海富光学科技有限公司 地址 272000 山东省济宁市高新区王因街 道崇文大道与弘济路交叉路南300米 海富科技园内厂房 (72)发明人 陈凡　邹维　刘壮　 (74)专利代理 机构 济宁汇景知识产权代理事务 所(普通合伙) 37254 专利代理师 葛玉彬 (51)Int.Cl. G06T 7/00(2017.01) G06V 10/44(2022.01) G06V 10/764(2022.01) G06T 1/00(2006.01)G06K 7/14(2006.01) G06T 7/73(2017.01) G06T 5/50(2006.01) G06V 10/74(2022.01) (54)发明名称 确定玻璃基板缺陷等级的方法、 计算机设备 及存储介质 (57)摘要 本申请公开确定玻璃基板缺陷等级的方法、 计算机设备及存储介质， 属于玻璃基板缺陷检测 技术领域， 其中所述方法包括S101， 采集无缺陷 玻璃基板的图像作为基准图像， 处理所述基准图 像得到无缺陷玻璃基板的第一轮廓线； S201， 采 集待检测玻璃基板的图像作为判定图像， 处理所 述判定图像， 并将处理后的判定图像输入至玻璃 基板缺陷检测模 型， 获得待检测玻璃基板的第二 轮廓线以及所述判定图像中存在的缺陷面积和 缺陷位置； S301， 基于 所述第一轮廓线、 所述第二 轮廓线以及所述缺陷面积和所述缺陷位置的信 息， 确定待检测玻璃基板的缺陷等级。 本申请提 供的技术方案能够有效确定玻璃基板的品质， 并 精确划分缺陷玻璃基板的缺陷等级， 避免资源的 浪费， 节约成本 。 权利要求书2页 说明书7页 附图2页 CN 114998217 A 2022.09.02 CN 114998217 A 1.确定玻璃基板缺陷等级的方法， 其特 征在于， 包括以下步骤： S101， 采集无缺陷玻璃基板的图像作为基准 图像， 处理所述基准图像得到无缺陷玻璃 基板的第一轮廓线； S201， 采集待检测玻璃基板的图像作为判定图像， 处理所述判定图像， 并将处理后的判 定图像输入至玻璃基板缺陷检测模型， 获得待检测玻璃基板的第二轮廓线以及所述判定图 像中存在的缺陷面积和缺陷位置； S301， 基于所述第一轮廓线、 所述第二轮廓线以及所述缺陷面积和所述缺陷位置的信 息， 确定待检测玻璃基板的缺陷等级。 2.如权利要求1所述确定玻璃基板缺陷等级 的方法， 其特征在于， 在步骤S101中， 处理 所述基准图像得到无缺陷玻璃基板的第一轮廓线， 具体为： 对所述基准图像进行 灰度处理得到灰度图像， 并将所述灰度图像转换为 二值图像； 基于所述二值图像进行轮廓提取， 绘制所述第一轮廓线， 所述第一轮廓线为无缺陷玻 璃基板的外轮廓线。 3.如权利要求1所述确定玻璃基板缺陷等级 的方法， 其特征在于， 在步骤S201中， 基于 所述判定图像确定待检测玻璃基板的外轮廓线； 通过所述玻璃基板缺陷检测模型确定待检测玻璃基板存在的缺陷， 并判断所述缺陷是 否包含内部缺陷， 若包含， 则对所述内部缺陷进行轮廓检测， 得到内部缺陷轮廓线， 并对所 述内部缺陷轮廓线 进行轮廓近似处 理， 生成闭合的近似轮廓线； 其中， 若存在所述内部缺陷， 所述第二轮廓线由所述近似轮廓线和待检测玻璃基板的 外轮廓线组成； 若不存在所述内部缺陷， 所述第二轮廓线为待检测玻璃基板的外轮廓线。 4.如权利要求3所述确定玻璃基板缺陷等级 的方法， 其特征在于， 在步骤S201中， 基于 内部缺陷轮廓线的外 接矩形或内部缺陷轮廓线的最小外 接圆生成所述闭合的近似轮廓线。 5.如权利 要求3或4所述确定玻璃基板缺陷等级的方法， 其特征在于， 在步骤S301中， 匹 配待检测玻璃基板的外轮廓线与所述第一轮廓线， 确定待检测玻璃基板是否存在边缘缺 陷， 若存在边缘缺陷， 且所述第二轮廓线不包含所述近似轮廓线， 则判定待检测玻璃基板为 轻度缺陷， 若不存在边缘缺陷， 且所述第二轮廓线不包含所述近似轮廓线， 则判定待检测玻 璃基板为无缺陷。 6.如权利要求5所述确定玻璃基板缺陷等级的方法， 其特征在于， 若所述第 二轮廓线由 所述近似轮廓线和待检测玻璃基板的外轮廓线组成， 则确定待检测玻璃基板的外轮廓线对 应的质心， 并确定所述近似轮廓线距离所述质心的最短距离； 比较所述最短距离与一预设距离的大小， 若所述最短距离小于所述预设距离， 则判定 待检测玻璃基板为重度缺陷。 7.如权利要求6所述确定玻璃基板缺陷等级的方法， 其特征在于， 若所述最短距离不小 于所述预设距离， 以所述质心 为中心十字 分割待检测玻璃基板， 形成四块子板， 分别计算每 块子板中的缺陷面积， 并基于所述 缺陷面积计算每块子 板的缺陷面积占比； 确定所述缺陷面积占比超过预设值的子板的个数， 若个数超过两个， 则判定待检测玻 璃基板为重度缺陷； 若个数为两个， 则确定两个子板的相对位置， 若为相邻 子板， 则判定待检测玻璃基板为 中度缺陷， 若为对角子 板， 则判定待检测玻璃基板为重度缺陷；权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 114998217 A 2若个数为 一个， 则判定待检测玻璃基板为中度缺陷。 8.如权利要求7所述确定玻璃基板缺陷等级 的方法， 其特征在于， 还包括步骤S401， 根 据待检测玻璃基板的缺陷等级， 在检测后的玻璃基板上施加相应的隐形标记， 其中所述隐 形标记为后续工位能够识别的标记。 9.确定玻璃基板缺陷等级的计算机设备， 其特 征在于， 所述计算机设备包括： 至少一个处 理器； 以及至少一个存储器， 其中所述存储器与所述处理器信号连接， 且所述存储器存储有 程序指令， 当所述程序指令由所述处理器执行时， 使得所述计算机设备执行权利要求1至8 中任一项所述确定玻璃基板缺陷等级的方法。 10.确定玻璃基板缺陷等级的存储介质， 其特征在于， 所述存储介质存储有计算机程 序， 当所述计算机程序运行在计算机或处理器上时， 使得所述计算机或所述处理器执行如 权利要求1至8中任一项所述确定玻璃基板缺陷等级的方法。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 114998217 A 3