(19)国家知识产权局
(12)发明 专利
(10)授权公告 号
(45)授权公告日
(21)申请 号 202210458714.1
(22)申请日 2022.04.28
(65)同一申请的已公布的文献号
申请公布号 CN 114577589 A
(43)申请公布日 2022.06.03
(73)专利权人 北京乾合晶芯电子技 术有限公司
地址 100089 北京市海淀区丰润中路5号院
79号楼1层10 3
(72)发明人 杨跃武 周韶波 孙钦密 赵瑞丽
王东甲 刘慧鑫 张明
(74)专利代理 机构 北京翔石知识产权代理事务
所(普通合伙) 11816
专利代理师 刘翔
(51)Int.Cl.
G01N 3/00(2006.01)G01N 3/02(2006.01)
G01N 1/32(2006.01)
审查员 田冲冲
(54)发明名称
用于金属材料低周疲劳的检测的评价方法
及检测系统
(57)摘要
本发明涉及一种用于金属材料低周疲劳的
检测评价方法, 包括, 步骤S1, 启动打磨 装置对待
评价金属第一检测位点进行打磨; 步骤S2, 启动
施力装置对待评价金属第一检测位点提供径向
应力, 中控装置获取待评价金属第一低周疲劳寿
命; 步骤S3, 施力装置提高施力速率对待评价金
属第二检测位点进行施力, 所述中控装置获取待
评价金属第二低周疲劳寿命; 步骤S4, 施力装置
调节施力角度对待评价金属第三检测位点进行
施力, 所述中控装置获取待评价金属第三低周疲
劳寿命; 步骤S5, 所述中控装置根据获取的第一
低周疲劳寿命、 第二低周疲劳寿命以及第三低周
疲劳寿命获取待评价金属低周疲劳寿 命S。
权利要求书2页 说明书9页 附图3页
CN 114577589 B
2022.08.19
CN 114577589 B
1.用于金属材 料低周疲劳的检测评价方法, 其特 征在于, 包括:
步骤S1, 夹持装置夹持待评价金属, 启动打磨装置对待评价金属第一检测位点进行打
磨;
步骤S2, 启动施力装置对待评价金属第一检测位点提供径向应力, 中控装置获取待评
价金属第一低周疲劳寿命s1;
步骤S3, 滑动装置移动待评价金属更换检测位点, 打磨装置对待评价金属第二检测位
点进行打磨, 施力装置提高施力速率对待评价金属第二检测位点进行施力, 所述中控装置
获取待评价金属第二低周疲劳寿命s2;
步骤S4, 滑动装置移动待评价金属再次更换检测位点, 打磨装置对待评价金属第三检
测位点进行打磨, 施力装置调节施力角度对待评价金属第三检测 位点进行施力, 所述中控
装置获取待评价金属第三低周疲劳寿命s3;
步骤S5, 所述中控装置根据获取的第一低周疲劳寿命、 第二低周疲劳寿命以及第三低
周疲劳寿命获取待评价金属低周疲劳寿命S, 设定S=s1 ×(1+(s2‑s0)/s0)×(1+(s3‑s0)/
s0), 其中, s0为中控 装置预设低周疲劳寿命参 考值;
在所述步骤S2 ‑S3中, 红外线温度检测机构获取当前检测位点低周疲劳检测时在预设
时间内,温度变化值 △T与预设温度变化值相比较, 对所述夹持装置的夹持力进行调节, 其
中,
当△T≤T1,所述中控 装置提高当前步骤中所述夹持装置的夹持力;
当T1<△T<T2, 所述中控 装置判定当前温度变化符合预设标准;
当△T≥T2, 所述中控装置根据获取当前待评价金属检测位点温度均匀度, 对下一步骤
的打磨效率进行调节;
其中, 所述中控装置预设温度变化值T, 设定第一预设温度变化值T1、 第二预设温度变
化值T2。
2.根据权利要求1所述的用于金属材料低周疲劳的检测评价方法, 其特征在于, 所述中
控装置判定提高当前步骤中所述夹持装置的夹持力时, 中控装置根据获取的温度变化值与
第一预设温度变化值的差值提高所述夹持装置的夹持力F至F1,设定F1=F ×(1+(T1‑△T)/
T1)。
3.根据权利要求1所述的用于金属材料低周疲劳的检测评价方法, 其特征在于, 所述中
控装置获取当前检测位点低周疲劳检测时在预设时间内,温度变化值大于等于第二预设温
度变化值, 中控装置将当前检测位点预设范围划分为若干区域, 中控装置通过红外线温度
检测机构根据各区域的温度值获取当前检测 位点的温度均匀度y, 设定y=((t1 ‑t0)2+(t2‑
t0)2+···+(tn‑t0)2)/n, 其中, t1为第一区域的实时温度, t2为第二区域的实时温度至tn
为第n区域的实时温度, t0为第一区域至第n区域温度平均值。
4.根据权利要求3所述的用于金属材料低周疲劳的检测评价方法, 其特征在于, 所述中
控装置预设温度均匀度Y, 中控装置将当前检测位点的温度均匀度y与预设温度均匀度相比
较, 判定对下一 步骤的打磨效率进行调节, 其中,
当y≤Y1, 所述中控 装置判定不对下一 步骤的打磨效率调节;
当Y1<y<Y2, 所述中控 装置判定提高下一 步骤的打磨效率p至p1;
当y≥Y2, 所述中控装置判定提高下一步骤的打磨效率p至p2, 提高当前步骤夹持装置权 利 要 求 书 1/2 页
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2的夹持力F至F2;
其中, 所述中控装置预设温度均匀度Y, 设定第一预设温度均匀度Y1, 第二预设温度均
匀度Y2。
5.根据权利要求4所述的用于金属材料低周疲劳的检测评价方法, 其特征在于, 所述中
控装置获取 的当前检测 位点的温度均匀度在第一预设温度均匀度和第二预设温度均匀度
之间, 中控装置判定提高下一步骤的打磨效率p至p1, 设定p1=p ×(1+(y‑Y1)×(Y2‑y)/(Y1
×Y2))。
6.根据权利要求4所述的用于金属材料低周疲劳的检测评价方法, 其特征在于, 所述中
控装置获取的当前检测位点的温度均匀度大于等于第二预设温度均匀度, 中控装置判定提
高下一步骤的打磨效率p至p2, 设定p2=p ×(1+1.35 ×(y‑Y2) /Y2),提高当前步骤夹持装置
的夹持力F至F2, 设定F2=F ×(1+ (y‑Y2) /Y2) 。
7.根据权利要求4所述的用于金属材料低周疲劳的检测评价方法, 其特征在于, 所述打
磨装置包括第一滑动机构以及设置于第一滑动机构上 的打磨机构, 其中, 所述第一滑动机
构包括用于控制打磨器移动速率的第五电机, 所述打磨机构包括用于控制所述打磨 器转动
速率的第六电机, 所述中控装置预设打磨效率标准值P, 中控装置将调节后的打磨效率与预
设打磨效率相比较, 对打磨机构的移动速率和转动速率进行调节, 其中,
当pi≤P, 所述中控装置将所述打磨器转动速率VD提高至VD1, 设定VD1=VD ×(1+(P‑
pi)/P);
当pi>P, 所述中控装置将所述打磨器转动速率VD提高至VD2, 设定VD2=VD ×(1+1.8×
(pi‑P)/P), 将打磨器的移动速率VY提高至VY1,设定VY1=VY ×(1+(pi‑P)/P);
其中, i=1,2。
8.根据权利要求4所述的用于金属材料低周疲劳的检测评价方法, 其特征在于, 在所述
步骤S5中, 中控装置根据实时温度变化值与当前检测位点温度均匀度对获取的当前低周疲
劳寿命sj调节至sj ’, 设定sj’=sj×(1‑(△T/T2×(y/Y1)) ), 其中, 若 △T<T2时, y=Y1, j=1,
2,3。
9.一种用于金属材料低周疲劳的检测系统, 其低周疲劳的评价方法采用根据权利要求
1‑8任一项所述的检测评价方法, 其特 征在于, 包括,
所述施力装置, 用于对待评价金属施加应力;
所述夹持装置, 用于 夹持待评价金属;
所述打磨装置, 设置 于所述待评价金属下 方, 用于打磨待评价金属;
所述滑动装置, 设置 于所述夹持装置一侧, 用于控制待评价金属的检测位置;
所述中控装置, 其与各部件相连接, 用于控制各部件工作及根据第一低周疲劳寿命、 第
二低周疲劳寿命以及第三低周疲劳寿命获取待评价金属的低周疲劳寿命, 其中, 在第一低
周疲劳寿命、 第二低周疲劳寿命以及第三低周疲劳寿命检测过程中, 所述中控装置根据当
前检测位点温度变化值与预设温度变化值相比较, 对所述夹持装置的夹持力、 所述打磨装
置的打磨效率进行调节, 其中, 若当前检测位点的温度变化值小于等于第一预设温度变化
值时, 中控装置判定提高当前步骤中夹持装置的夹持力, 若当前检测位点的温度变化值大
于等于第二预设温度变化值, 中控装置根据当前检测位点预设范围温度均匀度对下一步骤
的打磨效率进行调节, 以使中控 装置对待评价金属低周疲劳寿命的计算 准确。权 利 要 求 书 2/2 页
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专利 用于金属材料低周疲劳的检测的评价方法及检测系统
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