(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210785446.4 (22)申请日 2022.07.06 (71)申请人 三亚学院 地址 572022 海南省三 亚市吉阳区迎宾大 道学院路191号 (72)发明人 周波　 (74)专利代理 机构 广州三环 专利商标代理有限 公司 44202 专利代理师 王美燕 (51)Int.Cl. G01B 11/24(2006.01) G01B 11/25(2006.01) G06T 17/00(2006.01) (54)发明名称 一种用于结构光三维面形测量重建的相位 校正方法 (57)摘要 在投射正弦光栅的结构光扫描系统中， 由于 投影系统和图像采集系统的非线性， 引起相位的 非线性， 而相位的非线性对测量精度有影响， 因 此需要对相位进行校正， 因此本发 明提供一种用 于结构光三维面形测量重建的相位校正方法， 包 括下列步骤： S1、 生成四帧相位差为90度的正弦 干涉图像， 并计算所述正弦干涉图像中像素点的 相位A； S2、 将所述正弦干涉图像投射在物体表 面， 并采集四幅投射图像， 将所述投射图像进行 对数变换， 基于对数变换结果进行相位计算， 消 去因子， 获得 校正后的相位。 权利要求书2页 说明书5页 附图2页 CN 114838674 A 2022.08.02 CN 114838674 A 1.一种用于结构光 三维面形测量重建的相位校正方法， 其特 征在于， 包括下列步骤： S1、 生成四帧相位差为90度的正弦干涉图像， 并计算所述正弦干涉图像中像素点的相 位A； S2、 将所述正弦干涉图像投射在物体表面， 并采集四幅投射图像， 将所述投射图像进行 对数变换， 基于对数变换 结果进行相位计算， 消去因子γ， 获得 校正后的相位。 2.根据权利要求1所述的一种用于结构光三维面形测量重建的相位校正方法， 其特征 在于， 所述 正弦干涉图像中包 含多条初始相位 为0时的理想正弦光 栅条纹。 3.根据权利要求2所述的一种用于结构光三维面形测量重建的相位校正方法， 其特征 在于， 在步骤S1中， 计算所述 正弦干涉图像中像素点的相位A， 包括： 获取四帧正弦干涉图像的光强表达式： 式中， α表示背景光强， b表示调制度， ωt表示初始相位信息， I1p表示初始相位为0时的 正弦图像的光强表达式， I2p表示初始相位为π/2时的正弦图像的光强表达式， I3p表示初始 相位为 π 时的正弦图像的光强表达式， I4p表示初始相位 为3 π/2时的正弦图像的光强表达式； 通过下式计算相位A： 。 4.根据权利要求3所述的一种用于结构光三维面形测量重建的相位校正方法， 其特征 在于， 将所述投射图像进行对数变换， 还 包括： 获取投射图像的光强表达式： 对所述投射图像的光强表达式进行对数变换： 基于对数变换 结果进行相位计算， 消去因子γ， 获得初始相位。 5.根据权利要求4所述的一种用于结构光三维面形测量重建的相位校正方法， 其特征 在于， 基于对数变换 结果进行相位计算， 消去因子γ， 获得 校正后的相位：权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 114838674 A 2式中， 为初始相位。 6.根据权利要求1 ‑5任一项所述的一种用于结构光三维面形测量重建的相位校正方 法， 其特征在于， 所述方法应用于光学三维测量系统中， 所述测量系统包括： 投影装置， 用于根据控制终端的指令投射出四帧相位差为90度正弦干涉图像； 图像采集装置， 用于采集投射出四帧相位差为90度正弦干涉图像， 并将采集到的投射 图像回传至控制终端； 控制终端， 用于生成所述正弦干涉图像， 并驱动所述投影装置投射出正弦干涉图像， 对 基于图像采集装置所采集的投影图像进行对数变换， 基于对数变换结果进行相位校正计 算， 消去因子， 获得 校正后的相位。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 114838674 A 3