(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210545844.9 (22)申请日 2022.05.19 (71)申请人 深圳市萝卜智造 机器人有限公司 地址 518000 广东省深圳市龙华区观湖街 道观城社区大和工业区23 -4号201 (72)发明人 胡鸿　陈名正　马腾江　陈华　 (74)专利代理 机构 深圳市中科云策知识产权代 理有限公司 4 4862 专利代理师 章明美 (51)Int.Cl. G01N 21/892(2006.01) G01N 21/01(2006.01) (54)发明名称 一种半导体自动化检测装置及检测方法 (57)摘要 本发明提供的一种半导体自动化检测装置， 包括振动上料盘、 出料轨道和底座， 振动上料盘 的出料端固定有出料轨道， 振动上料盘靠近出料 轨道的一侧设置有底座， 底座上表 面的中部对称 固定有立杆， 立杆的上端滑动连接有滑套， 两个 滑套的一侧固定有升降框， 升降框远离滑套一侧 的内壁对称固定有连接板， 两个连接板的内侧等 距设置有若干个检测压板， 检测压板的一侧等距 固定三个导电片； 本发明在三极管检测时能够做 到三极管不停 歇的进行输送和检测， 即三极管在 输送的过程中即能够完成检测工作， 相较于传统 的三极管性能检测装置而言， 不需要三极管间歇 停止进行检测， 从而极大的提高了 检测的效率。 权利要求书2页 说明书5页 附图9页 CN 115078396 A 2022.09.20 CN 115078396 A 1.一种半导体自动化检测装置， 包括振动上料盘(1)、 出料轨道(2)和底座(3)， 所述振 动上料盘(1)的出料端固定有 出料轨道(2)， 所述振动上料盘(1)靠近出料轨道(2)的一侧设 置有底座(3)， 其特征在于， 所述底 座(3)上表 面的中部对称固定有立杆(4)， 所述立杆(4)的 上端滑动连接有滑套(5)， 两个所述滑套(5)的一侧固定有升降框(6)， 所述升降框(6)远离 滑套(5)一侧的内壁对称固定有连接板(7)， 两个所述连接板(7)的内侧等距设置有若干个 检测压板(8)， 所述检测压板(8)的一侧等距固定三个导电片(8a)， 两个所述连接板(7)之间 通过轴承转动连接有用于驱动若干个检测压板(8)循环传动进 行检测工作的传动机构(9)， 所述出料轨道(2)靠近连接板(7)的一侧通过滑槽滑动连接有L型限位板(10)， 所述底 座(3) 上表面的中部固定有用于驱动L型限位板(10)和升降框(6)升降的升降机构(1 1)。 2.根据权利要求1所述的半导体自动化检测装置， 其特征在于， 所述传动机构(9)包括 转轴(91)、 链轮(92)、 链条(93)、 第 一电机(94)、 滑框(95)、 滑条(96)和导向组件(97)， 两个 所述连接板(7)之间通过轴承对称转动连接有转轴(91)， 所述转轴(91)的中部固定有链轮 (92)， 两个所述链轮(92)之间传动 连接有链条(93)， 所述出料轨道(2)上方靠近滑套(5)一 侧的一个连接板(7)的一端固定有第一电机(94)， 所述连接板(7)上与第一电机(94)相对应 的一个转轴(91)靠近第一电机(94)的一端与第一电机(94)的输出端固定， 所述链条(93)的 外壁对称等距固定有滑框(95)， 所述检测压板(8)靠近滑框(95)的一侧对称固定有滑条 (96)， 所述滑条(96)与滑框(95)的内壁滑动连接， 所述连接板(7)表面设置有导向组件 (97)。 3.根据权利要求2所述的半导体自动化检测装置， 其特征在于， 所述导向组件(97)包括 导向槽(971)、 避让槽(972)和驱动柱(973)， 所述连接板(7)的表面开设有导向槽(971)， 所 述滑框(95)靠近连接板(7)的一侧开设有避让槽(972)， 所述滑条(96)靠近避让槽(972)的 一侧固定有驱动柱(973)， 所述驱动柱(973)与避让槽(972)的内壁滑动连接， 且驱动柱 (973)远离滑条(96)的一端贯 穿避让槽(972)与导向槽(971)的内壁滑动连接 。 4.根据权利要求2所述的半导体自动化检测装置， 其特征在于， 所述升降机构(11)包括 连接块(111)、 转杆(112)、 第二电机(113)、 第 一凸轮(114)和第二凸轮(115)， 所述底座(3) 上表面的中部对称固定有 连接块(111)， 两个所述连接块(111)之间通过轴承转动连接有转 杆(112)， 所述底座(3)的顶部固定有第二电机(113)， 所述转杆(112)靠近第二电机(113)的 一端与第二电机(113)的输出端固定， 所述转杆(112)的中部位于升降框(6)的正下方固定 有第一凸轮(114)， 所述第一凸轮(114)与升降框(6)相配合， 所述转杆(112)远离第二电机 (113)的一端位于L型限位板(10)的正下方固定有第二凸轮(115)， 所述L型限位板(10)的底 部与第二凸轮(1 15)的表面接触。 5.根据权利要求1所述的半导体自动化检测装置， 其特征在于， 所述底座(3)的底部对 称固定有自锁万向轮(12)。 6.根据权利要求1所述的半导体自动化检测装置， 其特征在于， 所述立杆(4)的中部对 称固定有阻挡块(13)， 所述滑套(5)的底部与阻挡块(13)的表面 挤压接触。 7.根据权利要求4所述的半导体自动化检测装置， 其特征在于， 所述第 一电机(94)和第 二电机(1 13)均为减速电机 。 8.根据权利要求2所述的半导体自动化检测装置， 其特征在于， 所述检测压板(8)远离 链条(93)的一侧等距形成有嵌入槽(81)， 所述导电片(8a)与嵌入槽(81)的内壁固定， 且导权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 115078396 A 2电片(8a)的厚度小于嵌入槽(81)的深度。 9.根据权利要求1所述的半导体自动化检测装置， 其特征在于， 所述的底座(3)上表面 位于立杆(4)的外侧固定有补强圈(14)， 所述 立杆(4)与补强圈(14)的内壁固定 。 10.一种采用权利要求1 ‑9任一所述的半导体自动化检测装置的检测方法， 其特征在 于， 所述方法包括以下步骤： 1)、 将三极管投入到振动上料盘(1)内通过振动盘进行排列上料输送到出料轨道(2) 上； 2)、 在多个三极管被L型限位板(10)阻挡依次排列开后驱动第二电机(113)转动， 使得 连接板(7)下移， 处于中部的检测压板(8)将三极管针脚压紧， 而后L型限位板(10)下降， 解 除对三极管的阻挡； 3)、 驱动传动机构(9)进行检测工作。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 115078396 A 3