(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210507013.2 (22)申请日 2022.05.10 (71)申请人 凌云光技术股份有限公司 地址 100094 北京市海淀区翠湖南环路13 号院7号楼7层701室 申请人 苏州凌云光工业智能技 术有限公司 (72)发明人 黄宽　甘春泉　周钟海　姚毅　 (74)专利代理 机构 北京弘权知识产权代理有限 公司 11363 专利代理师 逯长明　许伟群 (51)Int.Cl. G01N 21/01(2006.01) G01N 21/88(2006.01) G01N 21/95(2006.01) G06T 7/00(2017.01) (54)发明名称 一种显示屏低灰阶画面成像缺陷检测装置 及方法 (57)摘要 本发明提供一种显示屏低灰阶画面成像缺 陷检测装置及方法， 装置包括常规画面成像缺陷 检测系统、 分光镜、 低灰阶画面成像缺陷检测系 统和服务器； 常规画面成像缺陷检测系统设置在 分光镜竖直方向的中轴线上； 低灰阶画面成像缺 陷检测系统设置在分光镜水平方向的中轴线上； 服务器用于对常规画面图像和低灰阶画面图像 按照检测优 先级进行缺陷检测， 低灰阶画面图像 的检测优先级高于常规画面图像的检测优先级。 本发明采用分光镜将待测OLED屏幕的成像光路 分为第一 成像光路和第二 成像光路， 从而在同一 个工位完成多个画面的成像缺陷检测。 并且可以 在较短的曝光时间内完成低灰阶画面图像的采 集， 并进一步缩短待测OLED屏幕的低灰阶画面图 像缺陷检测时间。 权利要求书2页 说明书7页 附图4页 CN 114778450 A 2022.07.22 CN 114778450 A 1.一种显示屏低灰阶画面成像缺陷检测装置， 其特征在于， 所述缺陷检测装置包括： 常 规画面成像缺陷检测系统、 分光镜、 低灰阶画面成像缺陷检测系统和服 务器； 其中， 所述常规画面成像缺陷检测系统设置在所述分光镜竖直方向的中轴线上， 所述 常规画面成像缺陷检测系统用于采集待测OLED屏幕的常规画面图像； 所述低灰阶画面成像缺陷检测系统设置在所述分光镜水平方向的中轴 线上， 所述低灰 阶画面成像缺陷检测系统用于采集所述待测OLED屏幕的低灰阶画面图像； 所述服务器分别与所述常规画面成像缺陷检测系统和所述低灰阶画面成像缺陷检测 系统通信连接； 所述服务器用于接收常规画面图像和低灰阶画面图像， 并对常规画面图像和低灰阶画 面图像按照检测优先级进 行缺陷检测， 且所述低灰阶画 面图像的检测优先级高于所述常规 画面图像的检测优先级。 2.根据权利要求1所述的一种显示屏低灰阶画面成像缺陷检测装置， 其特征在于， 所述 分光镜用于将所述待测OLED屏幕的成像光路分为第一成像光路和第二成像光路； 其中， 所述第一成像光路与所述常规画面成像缺陷检测系统相对应， 所述第二成像光 路与所述低灰阶画面成像缺陷检测系统相对应。 3.根据权利要求1或2所述的一种显示屏低灰阶画面成像缺陷检测装置， 其特征在于， 所述低灰阶画面成像缺陷检测系统包括第二工业镜头、 微光像增强器、 第三工业镜头和第 二工业相机； 其中， 所述第二工业镜头安装在所述分光镜的一侧， 且所述第二工业镜头与所述分光 镜设置在水平方向的同一中轴线上； 所述微光像增强器安装在所述第 二工业镜头远离分光镜的一侧， 且所述微光像增强器 与所述分光镜设置在水平方向的同一中轴线上； 所述第三工业镜头安装在所述微光像增强器远离所述第 二工业镜头的一侧， 且所述第 三工业镜 头与所述分光镜设置在水平方向的同中一轴线上； 所述第二工业相机安装在所述第 三工业镜头远离所述微光像增强器的一侧， 且所述第 二工业相机与所述分光镜设置在水平方向的同一中轴线上， 所述第二工业相机用于采集待 测OLED屏幕的低灰阶画面图像。 4.根据权利要求3所述的一种显示屏低灰阶画面成像缺陷检测装置， 其特征在于， 所述 第二工业镜头用于将第二成像光路汇聚至所述微光像增强器， 所述微光像增强器用于对所 述第二成像光路进行信号增强。 5.根据权利要求1所述的一种显示屏低灰阶画面成像缺陷检测装置， 其特征在于， 所述 常规画面成像缺陷检测系统包括第一工业相机和第一工业镜 头； 其中， 所述第一工业相机和所述第一工业镜头连接， 所述第一工业相机用于采集所述 待测OLED屏幕的常规画面图像； 所述第一工业镜 头用于设置光圈大小。 6.根据权利要求1所述的一种显示屏低灰阶画面成像缺陷检测装置， 其特征在于， 所述 缺陷检测装置还包括： 传输模块， 所述传输模块与所述常规画面成像缺陷检测系统相互平 行设置， 所述传输模块用于放置并传输所述待测OLED屏幕。 7.一种显示屏低灰阶画面成像缺陷检测方法， 其特征在于， 应用于如权利要求1 ‑6任意权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 114778450 A 2一项所述的一种显示屏低灰阶画面成像缺陷检测装置中， 所述 缺陷检测方法包括： 获取待测OLED屏幕的常规画面图像和低灰阶画面图像， 其中， 所述常规画面图像通过 常规画面成像缺陷检测系统进 行采集， 所述低灰阶画面图像通过低灰阶画 面成像缺陷检测 系统进行采集； 对所述低灰阶画面图像进行缺陷检测； 若所述低灰阶画面图像检测合格， 则对所述常规画面图像进行缺陷检测， 并输出所述 常规画面图像的检测结果； 若所述低灰阶画面图像 检测不合格， 则输出 所述待测OLED屏幕不 合格的检测结果。 8.根据权利要求7所述的一种显示屏低灰阶画面成像缺陷检测方法， 其特征在于， 若所 述低灰阶画面图像检测合格， 则对所述常规画面图像进行缺陷检测， 并输出所述常规画面 图像的检测结果， 包括： 对所述常规画面图像进行缺陷检测； 若所述常规画面图像 检测合格， 则输出 所述待测OLED屏幕合格的检测结果； 若所述常规画面图像 检测不合格， 则输出 所述待测OLED屏幕不 合格的检测结果。 9.一种终端设备， 包括存储器、 处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上 运行的计算机程序， 其特征在于， 所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求7或8 所述一种显示屏低灰阶画面成像缺陷检测方法的步骤。 10.一种计算机可读存储介质， 所述计算机可读存储介质存储有计算机程序， 其特征在 于， 所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求7或8所述一种显示屏低灰阶画面 成像 缺陷检测方法的步骤。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 114778450 A 3