(19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告 号 (45)授权公告日 (21)申请 号 202221495423.1 (22)申请日 2022.06.13 (73)专利权人 合肥图迅电子科技有限公司 地址 230000 安徽省合肥市高新区望江西 路800号创新产业园一期C4栋 5层 (72)发明人 许进　张祥明　刘圣祥　鲁华武　 (74)专利代理 机构 安徽知问律师事务所 34134 专利代理师 王亚军 (51)Int.Cl. G01N 21/01(2006.01) G01N 21/95(2006.01) (54)实用新型名称 一种塑封胶体表面 缺陷检测装置 (57)摘要 本实用新型涉及一种塑封胶体表面缺陷检 测装置， 属于表面缺陷检测领域， 包括用于产生 成像检测的同轴光线的同轴光源组件； 用于将所 述同轴光源组件产生的同轴光线至少部分发射 至待检测物体的周侧面， 并接受周侧面发射回的 同轴光线， 进行再反射的侧面光反射组件； 用于 将待检测物体下表面发射的同轴光线， 以及侧面 光反射组件再反射的待检测物体侧面发射光线 反射至成像组件的分光组件； 用于接收来自所述 分光组件的反射光线， 并进行成像的成像组件。 本实用新型通过同轴光源组件直接照亮检测待 检测物体的下表面， 同时通过侧面光反射组件的 设置照亮待检测物体的周侧面， 同时对待检测物 体的下表 面和周侧面进行成像检测， 大大提升了 检测效率。 权利要求书1页 说明书4页 附图4页 CN 217688518 U 2022.10.28 CN 217688518 U 1.一种塑封胶体表面缺陷检测装置， 用于对待检测物体(2)的下表面(201)和周侧面 (202)进行成像 检测； 其特 征在于， 包括： 同轴光源组件(1)， 用于产生成像 检测的同轴光线； 侧面光反射组件(3)， 用于将所述同轴光源组件(1)产生的同轴光线至少部分发射至待 检测物体(2)的周侧面(202)， 并接受周侧面(202)发射回的同轴光线， 进行 再反射； 分光组件(4)， 用于将待检测物体(2)下表面发射的同轴光线， 以及侧面光反射组件(3) 再反射的待检测物体(2)侧面发射 光线反射至成像组件(5)； 成像组件(5)， 用于接收来自所述分光组件(4)的反射光线， 并进行成像， 形成待检测物 体(2)的下表面(201)和周侧面(202)的平面成像。 2.根据权利要求1所述的一种塑封胶体表面缺陷检测装置， 其特征在于： 所述同轴光源 组件(1)包括 LED光源(101)， 以及设置在LED光源(101)的光线路径上的偏光膜(102)。 3.根据权利要求1所述的一种塑封胶体表面缺陷检测装置， 其特征在于： 所述同轴光源 组件(1)包括LED光源(101)， 设置在LED光源(101)的光线反射路径上的散光板(103)， 以及 设置在散光板(10 3)上面的偏光膜(102)。 4.根据权利要求2或3所述的一种塑封胶体表面缺陷检测装置， 其特征在于： 所述侧面 光反射组件(3)包括套设在所述待检测物体(2)置物 位置处的镜座(301)， 镜座(301)中部具 有光线通道(302)， 光线通道(302)的断截面和所述待检测物体(2)的下表面(201)的形状相 匹配； 所述镜座(301)朝向同轴光源组件(1)一侧设置有和待检测物体(2)的周侧面(202)相 对应的倾 斜面， 倾斜面上设置有反射镜(3 03)。 5.根据权利要求4所述的一种塑封胶体表面缺陷检测装置， 其特征在于： 所述反射镜 (303)的镜面上镀有保护层。 6.根据权利要求1所述的一种塑封胶体表面缺陷检测装置， 其特征在于： 所述分光组件 (4)输送的反射 光线的方向垂直于所述同轴光源组件(1)输出光线的方向。 7.根据权利要求6所述的一种塑封胶体表面缺陷检测装置， 其特征在于： 所述成像组件 (5)包括用于接收来自所述分光组件(4)的反射光线的相机(501)， 相机(501)之前设置有和 相机(501)搭配采集图像的远心镜 头(502)。 8.根据权利要求7所述的一种塑封胶体表面缺陷检测装置， 其特征在于： 所述相机 (501)侧面设置有DB头固定 板(6)。 9.根据权利要求1所述的一种塑封胶体表面缺陷检测装置， 其特征在于： 所述待检测物 体(2)周侧设置有四面 光源， 用于照亮待检测物体(2)的周侧。 10.根据权利要求1所述的一种塑封胶体表面缺陷检测装置， 其特征在于： 所述待检测 物体(2)背离同轴光源组件(1)的一侧设置有 背光源(7)。权　利　要　求　书 1/1 页 2 CN 217688518 U 2一种塑封胶体表面缺陷检测装 置 技术领域 [0001]本实用新型涉及表面缺陷检测领域， 具体地说， 涉及一种 塑封胶体表面缺陷检测 装置。 背景技术 [0002]伴随着科学技术的快速发展， 在工业生产 中对加工产品的要求越来越高， 企业和 用户对产品表面质量的要求也越来越严格。 因此在实际的工业生产中， 在加工完成产品之 后， 还会对产品的表面质量缺陷进 行检测， 其主要 是通过先进的机器视觉检测技术， 对工件 产品表面的斑点、 凹坑、 划痕、 色差、 缺损等 缺陷进行检测。 [0003]在现有的检测设备中， 通常一次检测过程只能对产品的一个表面进行照亮成像， 如需检测产品的多个面， 则需要多次调整产品的位置， 不利于检测效率的提高和检测精准 度的控制。 实用新型内容 [0004]1、 要解决的问题 [0005]针对现有技术中针对半导体芯片塑封胶体表面检测其完整性时， 检测设备一次只 能检测产品一个面， 检测效率较低的问题， 本实用新型提供一种塑封胶体表面缺陷检测装 置， 能够同时对产品的多个面进行检测， 提高了检测效率和精准度。 [0006]2、 技术方案 [0007]为解决上述问题， 本实用新型采用如下的技 术方案。 [0008]一种塑封胶体表面缺陷检测装置， 用于对待检测物体的下表面和周侧面进行成像 检测； 包括： [0009]同轴光源组件， 用于产生成像 检测的同轴光线； [0010]侧面光反射组件， 用于将所述同轴光源组件产生的同轴光线至少部分发射至待检 测物体的周侧面， 并接受周侧面发射回的同轴光线， 进行 再反射； [0011]分光组件， 用于将待检测物体下表面发射的同轴光线， 以及侧面光反射组件再反 射的待检测物体侧面发射 光线反射至成像组件； [0012]成像组件， 用于接收来自所述分光组件的反射光线， 并进行成像， 形成待检测物体 的下表面和周侧面的平面成像。 [0013]优选地， 所述同轴光源组件包括LED光源， 以及设置在LED光源的光线路径上的偏 光膜。 [0014]优选地， 所述同轴光源组件包括LED光源， 设置在LED光源的光线反射路径上的散 光板， 以及设置在散光板上面的偏光膜。 [0015]优选地， 所述侧面光反射组件包括套设在所述待检测物体置物位置处的镜座， 镜 座中部具有光线通道， 光线通道的断截面和所述待检测物体的下表面的形状相匹配； 所述 镜座朝向 同轴光源组件一侧设置有和待检测物体的周侧面相对应的倾斜面， 倾斜面上设置说　明　书 1/4 页 3 CN 217688518 U 3