(19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告 号 (45)授权公告日 (21)申请 号 202221662665.5 (22)申请日 2022.06.29 (73)专利权人 合肥易孛特生物科技有限公司 地址 230000 安徽省合肥市庐阳区阜阳 北 路与北城大道交口工投创智天地A02 号楼4层 (72)发明人 张涛　张英豪　 (74)专利代理 机构 安徽盛世金成知识产权代理 事务所(普通 合伙) 34196 专利代理师 蒲金培 (51)Int.Cl. G01N 21/84(2006.01) G01N 21/01(2006.01) G03B 42/02(2021.01) (54)实用新型名称 一种接触式成像设备 (57)摘要 本申请涉及一种接触式成像设备， 包括底 盒、 放置板、 上罩和检测机构， 所述底盒的水平两 侧均固定连接有侧板， 且侧板的内侧滑嵌有滑 条， 所述上罩的两侧均一体成型有裙板， 且裙板 和滑条之间弹性连接， 所述侧板的顶端固定连接 有限位条， 且限位条的一侧设置有向底盒靠近的 内收条， 并且内收条将裙板向滑条的一侧进行按 压， 本方案， 通过将底盒和上罩设置为滑动连接 的方式， 且检测机构位于上罩的下方， 以此实现 上罩对检测机构的良好保护效果， 上罩利用侧 板、 滑条和裙板之间的相互配合， 实现便捷的滑 移， 同时裙板利用内 收条可以实现竖直方向的调 节， 以此实现检测机构 的下行， 和样品之间贴合 设置， 提升 检测的精度。 权利要求书1页 说明书3页 附图1页 CN 217638719 U 2022.10.21 CN 217638719 U 1.一种接触式成像设备， 包括底盒(1)， 所述底盒(1)的内部设置有放置板(3)， 且底盒 (1)的上方设置有 上罩(2)， 并且 上罩(2)的下方中心位置处设置有检测机构(13)， 其特征在 于： 所述底盒(1)的水平两侧均固定连接有侧板(6)， 且侧板(6)的内侧滑嵌有滑条(9)， 所述 上罩(2)的两侧均一体成型有裙板(8)， 且裙板(8)和滑条(9)之间弹性连接， 所述侧板(6)的 顶端固定连接有限位条(7)， 且限位条(7)的一侧设置有向底盒(1)靠近的内收条(701)， 并 且内收条(701)将裙板(8)向滑条(9)的一侧进行按压， 所述裙板(8)位于内收条(701)的下 方时， 检测机构(13)和放置 板(3)贴合设置 。 2.根据权利要求1所述的一种接触式成像设备， 其特征在于： 所述裙板(8)上开设有通 孔(801)， 所述滑条(9)上垂直固定连接有滑嵌于通 孔(801)内侧的限位杆(10)。 3.根据权利要求2所述的一种接触式成像设备， 其特征在于： 所述裙板(8)的下端面均 匀分布有 若干个第二 挤压弹簧(1 1)， 且第二 挤压弹簧(1 1)的底端和滑条(9)固定连接 。 4.根据权利要求3所述的一种接触 式成像设备， 其特征在于： 所述第二挤压弹簧(11)的 底端内侧转动 连接有滚珠(12)， 且滚珠(12)贯穿滑条(9)设置， 滚珠(12)和侧板(6)的底端 贴合设置 。 5.根据权利要求1所述的一种接触式成像设备， 其特征在于： 所述放置板(3)的下端面 四个拐角位置处均固定连接有伸缩 管(4)， 且伸缩 管(4)的外侧套设有第一挤压弹簧(5)， 并 且第一挤压弹簧(5)的两端分别和放置 板(3)下端面、 底盒(1)上端面固定连接 。权　利　要　求　书 1/1 页 2 CN 217638719 U 2一种接触式成像设 备 技术领域 [0001]本申请涉及生物样品检测的技 术领域， 尤其是 涉及一种接触式成像设备。 背景技术 [0002]Western blot技术也就是蛋白质印记技术是生物医学研究最常用的技术之一。 Western blot样品膜上分布着蛋白质条带， 这些条带通常用化学发光的方法显现出来。 对 发光图案传统的采集方式有两种： 一种是胶片法， 胶片法是将样品膜和X光胶片贴合， 化学 发光的样品会在胶片上 曝光出图案。 采用胶片法虽然成像质量高， 但是存在操作工序复杂 的问题； 另外一种是相机 法， 相机法是用CCD(电荷耦合器件)相机直接在暗室内对样品直接 拍照。 但是， 相机CCD受距离和灵敏度等因素限制， 光信号损失较大， 往往需要长时间曝光才 能获得足够清晰的信号。 基于以上两种成像方法均存在体积大、 占用空间大、 成本高、 不易 搬运等的缺陷， 现有技术中出现了一种新的成像方法， 就是采用互补金属氧化物半导体芯 片(简称CMOS)对样品膜进 行接触式采集。 这种方案中CMOS芯片探测器与样品膜直接或者由 很薄的透明树脂或者玻璃 膜相隔， 因此， 也称之为接触式成像。 [0003]利用CMOS芯片探测器对WB样品膜上的化学发光图案进行接触式成像是一种新的 成像方法。 在图像采集时， 样品膜与CMOS芯片探测 器直接接触或者中间有一层薄的透明膜 隔离。 样品与CMOS芯片探测 器直接接触或者有一层薄膜隔离， 这样的工作方式存在以下风 险： 样品与CMOS芯片探测器直接接触， CMOS芯片探测器是直接暴露在外， 由于操作必须使用 镊子等器械， 经常会触碰CMOS芯片 探测器， 容易划伤或损坏 CMOS芯片探测器； 现为保护CMOS 芯片探测器， 会在CMOS芯片探测器表面覆盖一层薄膜， 对CMOS芯片探测器有一定的保护作 用， 但薄膜太厚会影响图片质量， 图像会模糊不清晰。 因此， 为解决现有CMOS芯片探测 器容 易被外部利器损坏的问题， 本领域 技术人员提供了一种接触式成像设备。 实用新型内容 [0004]为了解决上述背景技 术中提出的问题， 本申请提供一种接触式成像设备。 [0005]本申请提供的一种接触式成像设备， 包括底盒， 所述底盒的内部设置有放置板， 且 底盒的上方设置有上罩， 并且上罩的下方中心位置处设置有检测机构， 所述底盒的水平两 侧均固定连接有侧板， 且侧板的内侧滑嵌有滑条， 所述上罩的两侧均一体成型有裙板， 且裙 板和滑条之间弹性连接， 所述侧板的顶端固定连接有限位条， 且限位条 的一侧设置有向底 盒靠近的内收条， 并且内收条将裙板 向滑条的一侧进行按压， 所述裙板位于内收条 的下方 时， 检测机构和放置 板贴合设置 。 [0006]优选的， 所述裙板上开设有通孔， 所述滑条上垂直固定连接有滑嵌于通孔内侧的 限位杆。 [0007]优选的， 所述裙板 的下端面均匀 分布有若干个第二挤压弹簧， 且第二挤压弹簧的 底端和滑条固定连接 。 [0008]优选的， 所述第二挤压弹簧的底端内侧转动连接有滚珠， 且滚珠贯穿滑条设置， 滚说　明　书 1/3 页 3 CN 217638719 U 3